什么是AFM探針？AFM探針，是在掃描隧道顯微鏡探針基礎(chǔ)上發(fā)明的一種新的原子級(jí)高分辨率儀器，可在大氣、液體環(huán)境中檢測(cè)納米區(qū)材料及樣品的物理特性，也可直接進(jìn)行納米操作。1985年，來(lái)自IBM的Binning和Stanford大學(xué)的Quate開(kāi)發(fā)出了AFM探頭，以彌補(bǔ)STM的不足，使之能夠?qū)θ魏螛悠?不論是否導(dǎo)電)表面進(jìn)行......

AtomicForceMicroscope原子力顯微鏡,AFM，是一種用于研究固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀。該系統(tǒng)利用探測(cè)被測(cè)樣品表面與微量力敏元件之間具有非常微弱的原子間相互作用力，研究了物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及其性質(zhì)。把一對(duì)弱力極敏感的微懸臂一端固定在一端，另一端的微小針尖靠近樣品，當(dāng)與樣品相互作用時(shí)，作用力會(huì)使懸臂變形或改變......

具有接觸、輕敲、相移成像、抬升等多種模式的掃描探針顯微鏡是一種綜合的原子力顯微鏡.摩擦顯微鏡.掃描隧道顯微鏡.磁力顯微鏡和靜電鏡組成的設(shè)備，能被測(cè)得的樣品的表面特征，例如形態(tài).粘彈.摩擦，吸附力，磁性/電場(chǎng)等。利用掃描探針顯微鏡可以實(shí)時(shí)獲取樣品表面實(shí)空間的三維圖像。它不僅能適應(yīng)周期結(jié)構(gòu)的表面探測(cè)，而且能適應(yīng)真空、大氣、......

彭院士碳基芯片團(tuán)隊(duì)HR-AFM原子力顯微鏡安裝培訓(xùn)完成，該設(shè)備將用于碳納米管等一維材料的形貌和高度信息測(cè)量。杭州葛蘭帕科技有限公司成立于2006年，隸屬香港葛蘭帕控股集團(tuán)。公司先后與美國(guó)AsylumResearch，美國(guó)AFMworkshop，德國(guó)Kammrath&Weiss，俄羅斯Nanomaker，法國(guó)Stil，荷......